Микроскоп электронный просвечивающий высокого разрешения JEOL JEM-2100 F/Cs/GIF/EDS

Статус: Ремонт

Исследование морфологии неорганических материалов на наноуровне, вплоть до атомного разрешения, фазового состава неорганических материалов; определение элементного и химического состава локальных участков образцов с помощью энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (EELS).