Спектрометр рентгеновский фотоэлектронный с функциями спектроскопии ОЖЕ, УФЭС, ВИМС KRATOS AXIS ULTRA DLD

Статус: В работе

Система поверхностного анализа на базе рентгеновского фотоэлектронного спектрометра AxisUltra DLD (KratosAnalytical, Великобритания) предназначена для исследования поверхности твердых тел методами Оже-, рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии. Спектрометр позволяет получать информацию об элементном составе, химическом состоянии атомов на поверхности, строить карты распределения элементов по поверхности и профили распределения элементов по глубине. Прибор оборудован препарационной камерой и каталитической ячейкой, что позволяет проводить эксперименты in-situ. Образец для исследования, как правило, должен быть площадью от нескольких квадратных миллиметров до нескольких квадратных сантиметров. Возможно проведение исследования порошков. Исследуемый материал должен иметь низкое давление насыщенных паров (менее 10–6 Па).